Unimet 1037

• UNIMET 1037 umożliwia szybkie i proste tworzenie aplikacji testowych typu „przeciągnij i upuść”.
• Odłączany TA37 może być również używany z M3000, UNIMET 3000 i UNIMET 2020.
• Testowanie dyskretnych półprzewodników nigdy nie było łatwiejsze

CECHY

• Mała powierzchnia, łatwa do przenoszenia
• Połączenie z dowolnym standardowym modułem obsługi poprzez TCP/IP, IO lub RS232
• Lekka konstrukcja
• Kompatybilny z już napisanymi testami TA07D, T, F i Y
• Testowanie w zakresach 20V/100A, 600V/500mA, 52V/1A
• Zgodność rozszerzenia HV07B do testowania do 2 kV/19,5 mA
• Wbudowany układ FPGA z konwerterami AD/DA do zaawansowanej kontroli testów i obsługi DSP (test rezystancji termicznej, test rezystancji dynamicznej, tRR*, tON*, tOFF* i tDELAY*)

*Wymagany opcjonalny adapter TA37.TIM

TESTOWANIE

• Tranzystory bipolarne
• Tranzystory polowe
• IGBT
• Diody
• Diody Zennera
• Tyrystory/triaki
• Macierze

Testowane Parametry:

DIODY I DIODY ZENNERA

• Napięcie przewodzenia VF
• Napięcie wsteczne VR
• Napięcie Zennera VZ
• Odwrotny prąd upływowy IR
• Rezystancja dynamiczna DC Rdyn
• Opór dynamiczny AC Rz

MOS-FETY

• Napięcie przebicia V(BR)DSS
• Odwrotne napięcie diody VSD
• Napięcie progowe bramki VGS
• Na oporze RDS(on)
• Transkonduktancja przewodzenia gfs
• Prąd upływowy do przodu/do tyłu IGSS
• Na napięciu VDS(on)
• Identyfikator prądu drenu w stanie włączenia (on)

TRIAK i TYRYSTORY

• Prąd wyzwalania bramki IGT
• Napięcie wyzwalania bramki VGT
• Prąd upływu w stanie wyłączonym IDO
• Zatrzask prądu IL

TRANZYSTORY BIPOLARNE

• Napięcie przebicia VCE0(BR)
• Napięcie przebicia VCES(BR)
• Napięcie nasycenia VCE(sat)
• Napięcie nasycenia VBE(sat)
• Prąd odcięcia kolektora/emitera ICEO, ICBO, IEBO
• Napięcie przebicia VCB0
• Napięcie przebicia VEB0
• Napięcie przewodzenia diody VF(dioda)
• Przy napięciu VBE(wł.)
• Wzmocnienie prądu stałego hfe(DC)
• Wzmocnienie prądu AC h21e(AC)

TA37.TIM

Parametry AC

• Odwrotny czas odzyskiwania tRR
• Czas włączenia tON
• Czas wyłączenia tOFF